又有六个光学科研新进展，这个光机所真给力！（附最新招聘 ... ...

中国科学院上海光学精密机械研究所（简称：上海光机所）成立于1964年5月，是我国建立最早、规模最大的激光科学技术专业研究所。经过五十余年的发展，已形成以探索现代光学重大基础及应用基础前沿、发展大型激光工程技术并开拓激光与光电子高技术应用为重点的综合性研究所。

上海光机所以突出的科研成绩和自身的学科优势确立了在国内外科技界的地位，为我国现代光学和激光与光电子学的发展及应用做出了突出贡献。上海光机所近期在一些光学相关研究方面都取得了进展，同时也有最新的招聘信息，大家一起来看看。

提出一种基于静态多平面相干衍射成像的

大口径光学元件相位缺陷检测新方案

近期，中国科学院上海光学精密机械研究所高功率激光物理联合实验室朱健强研究员团队在大口径光学元件的相位缺陷检测研究方面取得新进展，提出了结合暗场成像和静态多平面相干衍射成像的新型检测方案，相关成果于5月7日发表于《应用光学》(Applied Optics)。

终端光学元件的紫外损伤是当前制约高功率激光驱动器发展的瓶颈问题之一，而微米级尺寸相位缺陷由于光场增强而引起的下游光学元件损伤是目前终端光学元件损伤的一个主要原因，因此大口径光学元件相位缺陷的精密检测与控制对高功率激光装置的负载能力提升至关重要。如何实现对大口径（300~400mm）元件的微米量级局域相位缺陷的高效精密检测是当前面临的一个国际性难题。

研究团队提出“两步走”的方案解决上述难题。第一步，利用基于大口径光子筛的暗场成像技术实现对全口径范围内相位缺陷的定位，大幅提升检测效率并降低系统成本；第二步，使用基于静态多平面相干衍射成像技术（MCDI）对已定位的相位缺陷进行小视场下的精密测量，并用空间光调制器作为可调焦透镜来避免传统MCDI的机械移动误差，提高系统稳定性。

相比于传统的干涉测量方法，该“两步走”方案提出的衍射测量系统光路简单且对缺陷分布的稀疏性没有特殊要求。实验结果实现了优于50微米的系统分辨率，满足了当前检测需求。该研究为大口径光学元件相位缺陷的高效高精度检测提供了新型有效解决方案。

相关研究得到国家自然科学基金、上海市自然科学基金、中国科学院科研仪器设备研制项目和中国科学院青年创新促进会等项目的支持。